Một nhóm các nhà nghiên cứu từ Trung Quốc đại lục đã tiết lộ bước đột phá trong kiểm tra tấm wafer micro-LED có thể thay đổi tương lai của màn hình cao cấp. Phương pháp sáng tạo của họ sử dụng kỹ thuật phát hiện nhẹ nhàng, không phá hủy để vượt qua những thách thức lâu đời trong kiểm tra phát quang điện.
Được dẫn dắt bởi Giáo sư Huang Xian tại Đại học Thiên Tân ở miền bắc Trung Quốc, nhóm đã phát triển một dãy đầu dò ba chiều linh hoạt có thể thích ứng với các đường vi mô của tấm wafer micro-LED. Các đầu dò áp dụng một áp lực cực thấp—tương đương với một hơi thở nhẹ nhàng—đảm bảo rằng bề mặt tấm wafer vẫn không bị tổn hại. Như Giáo sư Huang giải thích, "Áp lực tiếp xúc của các đầu dò linh hoạt của chúng tôi chỉ bằng một phần mười nghìn của các đầu dò cứng thông thường," cho phép thiết bị giữ được tình trạng nguyên vẹn ngay cả sau một triệu chu kỳ kiểm tra.
Cùng với các đầu dò linh hoạt, các nhà nghiên cứu đã tích hợp một hệ thống đo lường được thiết kế riêng giúp kiểm soát quy trình chính xác và sàng lọc hiệu suất nhanh chóng. Sự kết hợp này không chỉ lấp đầy khoảng trống quan trọng trong kiểm tra phát quang điện micro-LED mà còn đặt nền tảng cho kiểm tra tấm wafer tiên tiến và các ứng dụng mới nổi trong các lĩnh vực như quang sinh học.
Hiện đang tiến đến thương mại hóa tại Công viên Đổi mới Giáo dục Cao Tiankai ở Thiên Tân, công nghệ này hứa hẹn các giải pháp kiểm tra quy mô lớn và hiệu quả chi phí có thể cách mạng hóa sản xuất micro-LED và nâng cao tiềm năng điện tử linh hoạt trong nhiều lĩnh vực công nghệ cao.
